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透射電鏡原位加熱/電學(xué)樣品桿,基于MEMS原位芯片技術(shù),通過更換多種類型的加熱芯片或電學(xué)芯片,在透射電鏡中實(shí)現(xiàn)對(duì)樣品加熱或加電的原位功能。透射電鏡樣品桿的分類1、氣氛桿:氣氛桿能夠突破現(xiàn)有透射電鏡對(duì)于真空度要求的限制,在一個(gè)*封閉的氣體系統(tǒng)中,研究透射電鏡內(nèi)的氣相反應(yīng)過程,如高分辨下觀察催化劑與氣體的反應(yīng)情況。并結(jié)合控溫模塊,能夠在特定的壓力和溫度下動(dòng)態(tài)的,實(shí)時(shí)的觀察原子級(jí)別的固氣反應(yīng)。同時(shí),該樣品桿可以真正在透射電鏡中進(jìn)行密閉腔室的EDS元素分析??捎脷怏w種類:氫氣、氮?dú)?、氧氣、氬氣、氨氣等?/p> 查看更多
在科學(xué)研究和工業(yè)生產(chǎn)中,液體樣品桿作為一種重要的實(shí)驗(yàn)工具,廣泛應(yīng)用于化學(xué)、生物、物理等領(lǐng)域。為了提高實(shí)驗(yàn)的準(zhǔn)確性和效率,它的設(shè)計(jì)與優(yōu)化顯得尤為重要。一、設(shè)計(jì)原則密封性:首要任務(wù)是確保樣品在運(yùn)輸和實(shí)驗(yàn)過程中的密封性,防止液體泄漏。因此,設(shè)計(jì)時(shí)應(yīng)選用優(yōu)質(zhì)的密封材料和合適的密封結(jié)構(gòu)。精度:精度直接影響到實(shí)驗(yàn)結(jié)果的準(zhǔn)確性。在設(shè)計(jì)過程中,應(yīng)充分考慮樣品的濃度、粘度等因素,選擇合適的取樣量和取樣方式,以確保測(cè)量精度。操作性:應(yīng)易于操作,方便用戶快速完成樣品的取樣、加樣等操作。同時(shí),操作過...
了解更多掃描電鏡(SEM)的對(duì)比度調(diào)整是優(yōu)化圖像質(zhì)量的關(guān)鍵步驟,以下是一些有效的調(diào)整技巧:調(diào)節(jié)電子束參數(shù):改變加速電壓和聚焦電流可以顯著影響圖像對(duì)比度。較低的加速電壓通常會(huì)增加樣品表面細(xì)節(jié)的對(duì)比度,因?yàn)榈湍茈娮优c樣品的相互作用更強(qiáng),但可能會(huì)減少穿透深度。調(diào)整聚焦電流則可以控制電子束的精細(xì)程度,進(jìn)而影響圖像的清晰度和對(duì)比度。對(duì)比度控制器調(diào)節(jié):在SEM的操作界面中,直接調(diào)整對(duì)比度控制旋鈕或滑塊。一般建議逐漸增加對(duì)比度至圖像出現(xiàn)輕微噪聲,這通常是一個(gè)較好的平衡點(diǎn),對(duì)比度過高會(huì)使得圖像細(xì)節(jié)模...
了解更多減少掃描電鏡(SEM)中電子束對(duì)樣品損傷的方法主要包括以下幾點(diǎn):降低束流密度:通過擴(kuò)大掃描區(qū)域或減小電子束的流強(qiáng),可以減少單位面積上接收到的電子數(shù)量,從而減輕對(duì)樣品的損傷。使用低加速電壓:較低的加速電壓意味著電子的能量較低,它們對(duì)樣品的穿透能力減弱,減少了對(duì)樣品內(nèi)部結(jié)構(gòu)的損傷,更適合觀察表面敏感或軟物質(zhì)樣品。優(yōu)化樣品制備:確保樣品表面導(dǎo)電,通過鍍金或其他導(dǎo)電材料處理,減少表面充電效應(yīng)。適當(dāng)?shù)臒崽幚砜梢詼p少樣品內(nèi)部應(yīng)力,間接降低損傷。對(duì)于生物樣品,冷凍干燥或液氮快速冷凍可以固定...
了解更多在材料力學(xué)性能的研究中,原位拉伸樣品桿與應(yīng)力-應(yīng)變曲線之間的關(guān)系是至關(guān)重要的。原位拉伸技術(shù)為研究者提供了一種在微觀尺度上觀察材料在受力過程中的變形行為的方法,而應(yīng)力-應(yīng)變曲線則是描述材料在受到外力作用時(shí),其內(nèi)部發(fā)生變形與破壞特性的宏觀表現(xiàn)。原位拉伸樣品桿是實(shí)現(xiàn)這一研究的關(guān)鍵工具。通過在掃描電子顯微鏡(SEM)或透射電子顯微鏡(TEM)等高精度成像設(shè)備中安裝拉伸裝置,研究者能夠在材料受到拉伸力的同時(shí),實(shí)時(shí)觀察其微觀結(jié)構(gòu)的變化。這種技術(shù)使得研究者能夠直觀地看到材料的形變過程,包括...
了解更多在科學(xué)實(shí)驗(yàn)中,尤其是在材料科學(xué)、生物學(xué)和化學(xué)等領(lǐng)域,原位樣品桿起著至關(guān)重要的作用。它允許研究人員在真實(shí)環(huán)境中對(duì)樣品進(jìn)行觀測(cè)和分析,從而獲得更準(zhǔn)確、更貼近實(shí)際的數(shù)據(jù)。一、提高機(jī)械穩(wěn)定性機(jī)械穩(wěn)定性是原位樣品桿性能的基礎(chǔ)。為了減少外界振動(dòng)和熱漂移對(duì)實(shí)驗(yàn)結(jié)果的影響,可以采取以下措施:選用高強(qiáng)度材料:選擇具有優(yōu)良機(jī)械性能的材料制作樣品桿,以提高其抗振能力。優(yōu)化結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì):通過合理的結(jié)構(gòu)設(shè)計(jì),降低樣品桿的質(zhì)量和剛度,從而減小振動(dòng)幅度。增加支撐結(jié)構(gòu):在樣品桿周圍增加支撐結(jié)構(gòu),如固定支架或減震...
了解更多透射電子顯微鏡是一種強(qiáng)大的顯微成像工具,能夠在原子尺度上揭示物質(zhì)的微觀結(jié)構(gòu)和性質(zhì)。在實(shí)驗(yàn)中,樣品桿作為樣品的載體和傳輸裝置,其性能直接影響到成像質(zhì)量和分辨率。一、樣品桿的穩(wěn)定性和精度樣品桿的穩(wěn)定性和精度是實(shí)現(xiàn)高分辨率成像的基礎(chǔ)。一個(gè)高質(zhì)量的樣品桿應(yīng)具備良好的機(jī)械穩(wěn)定性和熱穩(wěn)定性,以確保在長(zhǎng)時(shí)間實(shí)驗(yàn)過程中樣品位置的精確性和一致性。此外,樣品桿的制造精度也至關(guān)重要,因?yàn)槿魏挝⑿〉男巫兌伎赡軐?dǎo)致成像失真和分辨率下降。二、樣品桿的導(dǎo)電性在透射電子顯微鏡實(shí)驗(yàn)中,電子束穿過樣品時(shí)會(huì)產(chǎn)生電...
了解更多在掃描電鏡(SEM)中進(jìn)行粉末樣品分析,需要經(jīng)過一系列精心的樣品制備步驟,以確保獲得高質(zhì)量的圖像和準(zhǔn)確的數(shù)據(jù)。以下是粉末樣品分析的基本步驟和注意事項(xiàng):1.樣品前處理-導(dǎo)電膠粘結(jié)法:首先,將樣品臺(tái)準(zhǔn)備好,貼上導(dǎo)電膠(如銀膠或碳膠)。使用牙簽蘸取少量粉末,輕輕撒在導(dǎo)電膠上,然后通過震動(dòng)和吹掃去除未粘附的粉末,確保單層分布。-超聲波分散法:對(duì)于細(xì)小粉末,可以將其與適量的溶劑(如乙醇)混合,超聲處理后滴在樣品臺(tái)上,干燥后進(jìn)行觀察。-直接撒粉法:適用于較粗粉末,直接撒在樣品臺(tái)上,可使用...
了解更多在掃描電鏡(SEM)中實(shí)現(xiàn)多種信號(hào)檢測(cè)主要依賴于其復(fù)雜的設(shè)計(jì)和不同類型的探測(cè)器。以下是關(guān)鍵步驟和原理:1、電子束與樣品的相互作用:SEM的核心是高能電子束,它被聚焦到樣品表面。當(dāng)電子束與樣品相互作用時(shí),會(huì)產(chǎn)生多種信號(hào),包括但不限于二次電子(SE)、背散射電子(BSE)、特征X射線、俄歇電子等。2、二次電子(SE)檢測(cè):原理:SE是從樣品表面幾納米深度內(nèi)產(chǎn)生的電子,對(duì)表面形貌非常敏感,能提供高分辨率的表面圖像。探測(cè)器:通常使用半導(dǎo)體材料制成的SE探測(cè)器,如硅針尖,來捕捉這些低能...
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